直觀經濟的臺式粗糙度計量設備

ContourX-100光學輪廓儀是準確和可重復的非接觸式表面計量設備。

該小尺寸系統采用流線型設計，結合了數十年布魯克白光干涉儀（WLI）創新，可提供毫不遜色的2D / 3D高分辨率測量功能。滿足計量要求的臺式系統具有業界先進的友好用戶界面，可直觀訪問多種預編程濾鏡和分析工具，用于加工的表面，薄膜和摩擦學應用分析。

快速、可重復的三維計量

* 與放大倍率無關Z軸分辨率

* 大尺寸的標準視場

* 高穩定性和重復性的集成防震設計

高性能的測量和分析功能

* 易于使用的界面，可快速準確地獲得結果

* 廣泛的濾鏡和分析工具選項，用于粗糙度和關鍵尺寸測量分析

* 滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內的定制化分析報告